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菲希爾X射線測厚儀XULM240信息
點擊次數(shù):70 更新時間:2025-07-07 打印本頁面 返回

在現(xiàn)代工業(yè)生產和質量檢測領域,精準測量鍍層厚度與深入分析材料成分是確保產品質量、性能及使用壽命的關鍵環(huán)節(jié)。菲希爾 XULM240 作為一款先進的 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,憑借其技術性能與創(chuàng)新設計,成為眾多行業(yè)信賴的得力工具。

測量原理:X 射線熒光光譜法,精準無損檢測

菲希爾 XULM240 運用 X 射線熒光光譜法進行測量。當儀器的 X 射線源發(fā)射出的 X 射線照射到樣品表面時,樣品中的元素會吸收 X 射線能量,并激發(fā)出特征 X 射線熒光。不同元素的特征 X 射線熒光具有特定的能量和波長,通過探測器精確測量這些熒光的能量和強度,再利用專業(yè)算法進行分析,就能準確確定樣品中所含元素的種類及含量,進而精確計算出鍍層厚度。這種測量方式屬于無損檢測,不會對樣品造成任何損傷,既能保障樣品完整性,又能確保測量結果的準確性與可靠性,適用于各類珍貴或對完整性要求較高的樣品檢測。


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